電子元件的發(fā)展歷史實(shí)際上是電子發(fā)展的簡史。電子技術(shù)是一種新技術(shù),在二十世紀(jì),它發(fā)展最快,使用最廣泛,它已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重要標(biāo)志。為了促進(jìn)電子信息技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展,就要提高電子元器件的可靠性,因此掌握電子元器件失效分析的技術(shù)就變得十分必要。
首先看看什么是老化測試?在老化測試期間,特殊老化電路板上的組件會承受等于或高于其額定工作條件的壓力,以消除在額定壽命之前過早失效的任何組件。這些測試條件包括溫度、電壓/電流、操作頻率或任何其他被指定為上限的測試條件。這些類型的壓力測試有時(shí)被稱為加速壽命測試(HALT/HASS 的一個(gè)子集),因?yàn)樗鼈兡M組件長時(shí)間在極端條件下的運(yùn)行。
什么是UV測試?UV測試又稱UV老化測試,是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過程,它可以再現(xiàn)陽光、雨水和露水所產(chǎn)生的破壞,短時(shí)間內(nèi)得到產(chǎn)品的使用壽命。設(shè)備通過將待測材料曝露在經(jīng)過控制的陽光和濕氣的交互循環(huán)中,同時(shí)提高溫度的方式來進(jìn)行試驗(yàn)。
無損檢測是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性,在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下,檢測被檢對象中是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷大小,位置,性質(zhì)和數(shù)量等信息。隨著檢測要求的不斷提高,無損檢測技術(shù)已廣泛采用數(shù)字技術(shù)并已逐步進(jìn)入測量領(lǐng)域,如對幾何量和材料特性參數(shù)的測量,有必要按照一定程序?qū)x器指標(biāo)的持續(xù)穩(wěn)定進(jìn)行監(jiān)視和控制,以提高檢測結(jié)果的可靠性。
IC芯片外觀檢測系統(tǒng)在IC集成芯片器件生產(chǎn)過程中,芯片的外觀質(zhì)量檢測是其中一項(xiàng)必不可少的環(huán)節(jié),包括芯片的引腳尺寸、殘缺、偏曲、間距不均、平整度差等檢測項(xiàng)目,而上述質(zhì)量問題會直接影響電路產(chǎn)品的質(zhì)量。外觀缺陷的自動檢測需要使用電子元件外觀檢測設(shè)備,那么,電子元器件的外觀瑕疵缺陷如何檢測呢?
低溫試驗(yàn)主要用于評價(jià)在儲存、工作和拆裝操作期間,低溫條件對裝備的安全性、完整性和性能的影響。確定低溫試驗(yàn)順序,需遵循兩個(gè)原則:最大限度地利用裝備的壽命期限和施加的環(huán)境應(yīng)能最大限度地顯示疊加效應(yīng)。
超聲波檢測也叫超聲檢測、超聲波探傷,是無損檢測的一種。無損檢測是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對被檢驗(yàn)不見的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種檢測手段。超聲波無損探傷(NDI)是超聲無損檢測的一種發(fā)展與應(yīng)用,其設(shè)備有:超聲探傷儀、探頭、藕合劑及標(biāo)準(zhǔn)試塊等。其用途是檢測鑄件縮孔、氣泡、焊接裂紋、夾渣、未熔合、未焊透等缺陷及厚度測定。
開年首月至春節(jié)期間,市場部分ST、TI品牌物料到貨,加上淡季效應(yīng),缺貨勢頭略減。但從晶圓代工不斷漲價(jià)來看,缺貨基調(diào)沒有改變。此外,這期間兩筆業(yè)內(nèi)大額并購以失敗畫上句號。由于壟斷爭議難以規(guī)避,外加缺芯大潮的敏感時(shí)局,這兩樁并購本來就難以通過,此番畫上句號,業(yè)內(nèi)對它們的關(guān)注與爭議也可告一段落。
剛過完春節(jié),市場重新鼎沸起來。Microchip最新傳出漲價(jià)通知,又將攪動MCU市場。與此同時(shí),一直很低調(diào)的閃存也來“偷襲”,1月下旬傳出一起原材料污染事件,直接扭轉(zhuǎn)跌勢。下面就來具體看看這兩大市場的情況。
化學(xué)分析從大類分是指經(jīng)典的重量分析和容量分析。重量分析是指根據(jù)試樣經(jīng)過化學(xué)實(shí)驗(yàn)反應(yīng)后生成的產(chǎn)物的質(zhì)量來計(jì)算式樣的化學(xué)組成,多數(shù)是指質(zhì)量法。容量法是指根據(jù)試樣在反應(yīng)中所需要消耗的標(biāo)準(zhǔn)試液的體積。容量法即可以測定式樣的主要成分,也可以測定試樣的次要成分。