溫升測(cè)試(Temperature rise test)-電性能測(cè)試

溫升是指電子電氣設(shè)備中的各個(gè)部件高出環(huán)境的溫度。導(dǎo)體通流后產(chǎn)生電流熱效應(yīng)，隨著時(shí)間的推移，導(dǎo)體表面的溫度不斷地上升直至穩(wěn)定。電動(dòng)機(jī)的額定溫升是指在設(shè)計(jì)規(guī)定的環(huán)境溫度（十40℃）下，電動(dòng)機(jī)繞組的最高允許溫升，它取決于繞組的絕緣等級(jí)。溫升取決于電動(dòng)機(jī)運(yùn)行中發(fā)熱情況和散熱情況。常根據(jù)溫升判斷電動(dòng)機(jī)散熱是否正常。為驗(yàn)證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩(wěn)定性等特性，通常會(huì)測(cè)試其重要元件（IC芯片等）的溫升，將被測(cè)設(shè)備置于高于其額定工作溫度（T=25℃）的某一特定溫度（T=70℃）下運(yùn)行，穩(wěn)定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升，驗(yàn)證此產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合理。

溫升測(cè)試是電器產(chǎn)品型式試驗(yàn)中常規(guī)的試驗(yàn)項(xiàng)目，溫升試驗(yàn)的目的是測(cè)試電器產(chǎn)品及部件的溫度變化情況，以確定電器產(chǎn)品或部件是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。隨著電器產(chǎn)器日新月異的發(fā)展，溫升試驗(yàn)對(duì)電器設(shè)備及部件產(chǎn)品安全性變得越來(lái)越重要。

溫升測(cè)試方法

溫升測(cè)試方法按照測(cè)量溫度儀表的不同，可以分為非接觸式與接觸式兩大類。

1. 非接觸式測(cè)量法

非接觸式測(cè)量法能測(cè)得被測(cè)物體外部表現(xiàn)出來(lái)的溫度，需要通過對(duì)被測(cè)問題表面發(fā)射率修正后才能得到真實(shí)溫度，而且測(cè)量方法受到被測(cè)物體與儀表之間的距離以及輻射通道上的水汽、煙霧、塵埃等其他介質(zhì)的影響，因此測(cè)量精度較低。日常我們經(jīng)常用的方法有光譜測(cè)溫技術(shù)、全息干涉測(cè)溫技術(shù)、基于CCD的三基色測(cè)溫技術(shù)。

2. 接觸式測(cè)量法

接觸式測(cè)溫儀溫度探頭一般有熱電偶和熱電阻兩種：

熱電偶的工作原理是基于塞貝克（seeback效應(yīng)），兩種不同成分的導(dǎo)體兩端連接成回路，如兩連接端溫度不同，則在回路內(nèi)產(chǎn)生熱電流的物理現(xiàn)象，利用此現(xiàn)象來(lái)測(cè)量溫度。

熱電阻的測(cè)量原理是根據(jù)溫度變化時(shí)本身電阻也變化的特性來(lái)測(cè)量溫度。

接觸式的測(cè)試方法中測(cè)溫元件直接與被測(cè)介質(zhì)接觸，直接測(cè)得被測(cè)物體的溫度，因而簡(jiǎn)單、可靠、測(cè)量精度高。

溫升測(cè)試目的

溫升試驗(yàn)是電子電器產(chǎn)品安全性能的重要試驗(yàn)之一，用來(lái)評(píng)價(jià)電氣產(chǎn)品的質(zhì)量和電氣安全特性。電氣產(chǎn)品在正常使用時(shí)，由于一些通過大電流元件的發(fā)熱，導(dǎo)致自身的溫升過高，長(zhǎng)時(shí)間這種狀態(tài)下工作，可能降低絕緣材料性能，從而導(dǎo)致設(shè)備電擊、燙傷或著火危險(xiǎn)。溫升試驗(yàn)就是用來(lái)檢測(cè)和規(guī)避這些危險(xiǎn)的重要方式。溫升測(cè)試是針對(duì)電源線接頭、插座、拖線板、轉(zhuǎn)換插、接線端子、連接器、開關(guān)等電連接設(shè)備安全性能檢測(cè)的。 

溫升測(cè)試使用設(shè)備

變頻電源、交直流電參數(shù)測(cè)量?jī)x、熱電偶線(K型或J型)、UL膠水和催化劑、數(shù)據(jù)采集儀等。

測(cè)試程序

溫升測(cè)試前的條件

1.使用的所有設(shè)備都必須以一年為周期進(jìn)行調(diào)校。載有最后調(diào)校日期和調(diào)校周期的調(diào)校粘紙必須粘固在每臺(tái)儀器上。

2.檢查樣機(jī)的完整性，零部件、配件、附件等應(yīng)齊全。3.準(zhǔn)備具有代表性的樣機(jī)在溫度23℃±2℃，濕度50%-90%RH之內(nèi)的環(huán)境溫度下放置10h，至樣機(jī)表面溫度達(dá)到與室溫平衡再進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)試與記錄

1.按照標(biāo)準(zhǔn)或其他要求，設(shè)備或設(shè)備的零部件應(yīng)在正常負(fù)載條件下運(yùn)行至熱平衡狀態(tài)或曲線走勢(shì)明顯平穩(wěn)。

2.保持額定負(fù)載值運(yùn)行，并監(jiān)測(cè)各溫度(溫升)測(cè)量點(diǎn)熱電偶反饋的數(shù)據(jù)，記錄被測(cè)產(chǎn)品個(gè)點(diǎn)溫度(溫升)測(cè)量點(diǎn)的反饋值，測(cè)量和記錄被測(cè)產(chǎn)品運(yùn)行的電壓、電流、輸入功率、輸出電壓，輸出電流，輸出功率等。

3.環(huán)境溫度控制的穩(wěn)定性：觀察環(huán)境溫度曲線是否穩(wěn)定，機(jī)器波動(dòng)幅度是否在有效幅度范圍之內(nèi)。

4.機(jī)器的運(yùn)行是否正常：如發(fā)現(xiàn)有聲音、火花、振動(dòng)、熱保護(hù)或其它異常狀態(tài)的發(fā)生，應(yīng)立刻保存現(xiàn)有數(shù)據(jù)，停止試驗(yàn)，查看分析原因，并盡量進(jìn)行解決。

5.查看曲線圖，觀察各測(cè)試點(diǎn)的溫度曲線變化狀況是否合理，如有異常，應(yīng)立刻保存現(xiàn)有數(shù)據(jù)，停止試驗(yàn)，查看分析原因，并盡量進(jìn)行解決。

6.測(cè)試開始后，人盡可能的少在測(cè)試周圍走動(dòng)，即使是查看數(shù)據(jù)是否正常，走動(dòng)的速度要慢且人體盡可能遠(yuǎn)離被測(cè)機(jī)器，以免影響被測(cè)機(jī)器周圍的環(huán)境溫度。

溫升試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

1. 連接器件

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 13140.1、GB/T34989、IEC 60998-1、IEC61984、EN 60998-1、EN 61984、AS/NZS 60998.1、UL 1977、UL 2238、UL 1059

2. 插頭插座

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2099.1、IEC 60884-1、AS/NZS 60884.1、DIN VDE 0620-1、BS 1363-1、UL 498、UL 1363

3. 器具耦合器

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 17465.1、IEC 60320-1、EN 60320-1、AS/NZS 60320.1、UL 60320

4. 軟線組件與電源軟線

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

UL817

5. 熔斷器

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 13539.1、GB/T 31465、IEC 60269-1、EN 60269-1、ISO 8820、JASO D622、UL 248

6. 電氣設(shè)備開關(guān)

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

IEC 60669-1、GB/T 16915.1、EN 60669-1、AS/NZS 60669.1

7. 信息技術(shù)和通訊設(shè)備

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB 4943.1、IEC 60950-1、EN 60950-1、AS/NZS 60950.1、UL 60950

8. 音視頻設(shè)備

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB 8898、IEC 60065、EN 60065、AS/NZS 60065、UL 60065

9. 家用電器設(shè)備

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB 4706.1、IEC 60335-1、EN60335-1、AS/NZS60335.1

10. 照明電器設(shè)備

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB 7000.1、EN 60598-1、EN 60598-1、IEC 60598-1、AS/NZS 60598.1