RoHS認(rèn)證是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(The restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫，其規(guī)定，在電氣、電子產(chǎn)品中如含有鉛、鎘、汞、六價鉻、多溴二苯醚和多溴聯(lián)苯等有害重金屬的，歐盟從2006年7月1日將禁止進(jìn)口。根據(jù)《中華人民共和國產(chǎn)品質(zhì)量法》、《中華人民共和國認(rèn)證認(rèn)可條例》和《電子信息產(chǎn)品污染控制管理辦法》，國家認(rèn)證

2022-01-24 13:30:00

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并購小年看點(diǎn)多！盤點(diǎn)2021年半導(dǎo)體并購幾宗“最” 2021年落下帷幕，總的來說去年是個半導(dǎo)體并購小年，集邦咨詢統(tǒng)計指出，去年并沒有出現(xiàn)100億美元以上規(guī)模的并購，主要的幾起并購都在50-60億美元上下浮動。 但小年并不意味著貧乏。在2016年前后的并購大潮退去之后，半導(dǎo)體企業(yè)的并購主要是補(bǔ)全業(yè)務(wù)板塊，布局新興市場?，F(xiàn)在就來盤點(diǎn)一下，去年那些并購當(dāng)?shù)闷鹨粋€“最”字，除此以外還有哪些未完成的并購值得關(guān)注。 最宏大：ADI收購美信 2021年8月26日，ADI正式將美信整并。此交易在20

2022-01-21 15:48:00

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高低溫交變濕熱試驗(yàn)是指產(chǎn)品在模擬的高溫低濕、低溫高濕等不同環(huán)境的測試條件下，貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。交變濕熱試驗(yàn)中的高溫試驗(yàn)是針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機(jī)等熱源處儲藏或使用產(chǎn)品的情形，目的是檢驗(yàn)軍民用設(shè)備在高溫環(huán)境中儲存和工作的適應(yīng)性。

2022-01-21 15:41:58

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因?yàn)槠囯妱踊?、智能化和網(wǎng)聯(lián)化的來襲，全球性的汽車芯片缺貨，以及國內(nèi)汽車芯片產(chǎn)業(yè)的興起。汽車芯片產(chǎn)業(yè)獲得了前所未有的關(guān)注度。汽車電子產(chǎn)品的價格普遍比較貴，其中的主要原因之一就是使用了車規(guī)級的電子元件，但什么樣的電子元件才是車規(guī)級的器件呢？

2022-01-21 15:41:46

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電子元器件屬于工業(yè)設(shè)備，大多數(shù)設(shè)備在日常生活中看不到，因?yàn)樗渴鹪谑謾C(jī)、電腦、智能設(shè)備中，基本上有成千上萬的元件，不同的設(shè)備攜帶不同的功能，除了電阻電容，還包含高技術(shù)射頻設(shè)備。電子元器件的種類繁多，全類電子元器件涉及的型號數(shù)量上億，市場對電子元器件的需求量也非常大，因?yàn)殡娮釉骷呀?jīng)成為工業(yè)領(lǐng)域中不可缺少的部分。當(dāng)我們在采購不確定元器件質(zhì)量真?zhèn)蔚臅r候，可以把買到的電子元器件直接拿去檢測，國內(nèi)有專門的檢測機(jī)構(gòu)，可以幫助檢驗(yàn)器件質(zhì)量。

2022-01-21 14:02:51

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跌落試驗(yàn)通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。裸機(jī)跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過程中抗意外跌落沖擊的能力。包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時候的對產(chǎn)品的保護(hù)能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。

2022-01-21 13:59:00

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近年來，科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步使生產(chǎn)中使用的x-ray檢測設(shè)備更加嚴(yán)格。曲軸，氣缸，發(fā)動機(jī)葉片等工業(yè)零件也使用鑄件，鑄件的生產(chǎn)非常容易產(chǎn)生氣泡等問題，這是傳統(tǒng)技術(shù)無法解決的。但是x-ray檢測設(shè)備無損檢測技術(shù)在對各種鑄件檢測得到非常準(zhǔn)確的結(jié)果，應(yīng)用范圍廣泛，且技術(shù)成熟。

2022-01-20 17:48:00

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關(guān)于發(fā)布和實(shí)施CNAS-GL015：2022《判定規(guī)則和符合性聲明指南》的通知

2022-01-20 15:52:00

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一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后，設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內(nèi)，正確評估產(chǎn)品可靠性。

2022-01-20 15:32:59

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常用的可靠性設(shè)計原則和方法有元器件選擇和控制、熱設(shè)計、簡化設(shè)計、降額設(shè)計、冗余和容錯設(shè)計、環(huán)境防護(hù)設(shè)計、健壯設(shè)計和人為因素設(shè)計等。除了元器件選擇和控制、熱設(shè)計主要用于電子產(chǎn)品的可靠性設(shè)計外，其余的設(shè)計原則及方法均適用于電子產(chǎn)品和機(jī)械產(chǎn)品的可靠性設(shè)計。

2022-01-20 13:31:00

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