RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標(biāo)準(zhǔn)，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn)，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于消除電器電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚共6項物質(zhì)，并重點規(guī)定了鎘的含量不能超過0.01%。如果產(chǎn)品出口到歐洲，必須實施ROHS。此外，從環(huán)境保護和可持續(xù)發(fā)展的角度來看，也是必要的，對使用產(chǎn)品的個人健康和環(huán)境非常有益。

2023-02-22 15:02:00

查看詳情

語音芯片的應(yīng)用范圍廣泛也比較繁雜，從使用功能上，基本可以劃分為錄音芯片和放音語音芯片。根據(jù)產(chǎn)品和環(huán)境的不同應(yīng)用也有一定的不同，所以語音芯片的壽命長短很容易受制造工藝以外的因素影響，為了盡可能讓語音芯片有更長的使用壽命，語音芯片怎么燒錄?有哪些工藝要求呢?

2023-02-20 17:52:19

查看詳情

半導(dǎo)體封測在國內(nèi)發(fā)展迅速，封裝后使用X-RAY檢測設(shè)備對其進行測試是對封裝好的芯片進行生產(chǎn)工藝的檢測，以保證器件封裝后的質(zhì)量。測試則是對芯片、電路等半導(dǎo)體產(chǎn)品的功能和性能進行驗證的步驟，以篩選出有結(jié)構(gòu)缺陷或者功能、性能不符合要求的半導(dǎo)體產(chǎn)品，確保交付產(chǎn)品的正常應(yīng)用。

2023-02-17 14:59:23

查看詳情

芯片開發(fā)流程包括規(guī)格制定、詳細(xì)設(shè)計、HDL編碼、仿真驗證、邏輯綜合、STA、形式驗證、布局規(guī)劃、布線、CTS、寄生參數(shù)提取、版圖物理驗證等步驟。對于半導(dǎo)體企業(yè)，進行可靠性試驗是提升產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

2023-02-16 17:08:24

查看詳情

濕敏元器件及芯片的存儲環(huán)境，應(yīng)保持在溫度25℃左右，相對濕度（RH)＜40%，如果存儲和作業(yè)的環(huán)境溫濕度高于標(biāo)準(zhǔn)范圍就需要管控濕敏器件及芯片的折封管制。還有一些縫隙可能肉眼無法觀察，但當(dāng)集成電路芯片放置于環(huán)境中時，環(huán)境中的水分就會通過滲透的作用滲透至芯片內(nèi)部。而造成芯片的受潮。為增進大家對芯片烘烤的認(rèn)識，以下是創(chuàng)芯檢測整理的相關(guān)內(nèi)容，希望能給您帶來參考與幫助。

2023-02-15 14:01:29

查看詳情

PCB的中文名稱為印制電路板，也被稱為印刷線路板，是重要的電子部件。在當(dāng)今社會，電子技術(shù)高度發(fā)達，無處不存在電子產(chǎn)品，電子產(chǎn)品中都有電路板的身影，它是電子產(chǎn)品的載體或者核心部分，本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

2023-02-10 14:06:57

查看詳情

農(nóng)歷新年歸來，創(chuàng)芯在線檢測中心勇?lián)姑?，推動高質(zhì)量發(fā)展實現(xiàn)新跨越。經(jīng)過前期精心籌備，創(chuàng)芯檢測香港實驗室“創(chuàng)芯在線國際技術(shù)有限公司”正式宣告成立。廣大香港地區(qū)客戶，自即日起也能同等享受到優(yōu)質(zhì)高效的芯片檢測服務(wù)。

2023-02-09 10:25:00

查看詳情

創(chuàng)芯檢測始終秉持"專業(yè)，權(quán)威，高效，創(chuàng)新"的宗旨，重金購置國際先進的檢測設(shè)備，測試嚴(yán)格遵照國際檢測標(biāo)準(zhǔn)及方法，現(xiàn)已取得CNAS認(rèn)證并獲國際互認(rèn)資質(zhì)，客戶群涵蓋海內(nèi)外多個國家和地區(qū)，是國內(nèi)素質(zhì)過硬、知名度高的專業(yè)IC檢測機構(gòu)。開關(guān)電源有哪些測試項目?本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

2023-02-08 18:23:20

查看詳情

中國合格評定國家認(rèn)可委員會（CNAS）近日發(fā)出通知，CNAS-CL01-G004：2023《內(nèi)部校準(zhǔn)要求》已于2023年1月20日正式發(fā)布并實施，無過渡期，詳情如下：

2023-02-07 18:28:41

查看詳情

電子元器件失效分析是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辯其失效模式和失效機理，并最終確認(rèn)其失效原因。提出改善設(shè)計和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件的可靠性。因此，開展失效分析，必須首先在開發(fā)、生產(chǎn)、工程等階段建立失效信息和失效器件的收集制度。

2023-02-06 18:23:34

查看詳情