電子設(shè)備中大部分故障,究其最終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時(shí)定位到元器件的故障原因,就能及時(shí)排除故障,讓設(shè)備正常運(yùn)行。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。
PCBA是由PCB和各種電子元件組成的系統(tǒng)。PCB的主要材料是玻璃纖維和環(huán)氧樹脂的復(fù)合材料,分為單面板,雙面板和多層板。作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。由于PCB高密度的發(fā)展趨勢以及無鉛與無鹵的環(huán)保要求,越來越多的PCB出現(xiàn)了潤濕不良、爆板、分層、CAF等等各種失效問題。PCB失效機(jī)理與原因的獲得將有利于將來對(duì)PCB的質(zhì)量控制,從而避免類似問題的再度發(fā)生。
復(fù)合材料,是由兩種或兩種以上不同性質(zhì)的材料,通過物理或化學(xué)的方法,在宏觀(微觀)上組成具有新性能的材料。各種材料在性能上互相取長補(bǔ)短,產(chǎn)生協(xié)同效應(yīng),使復(fù)合材料的綜合性能優(yōu)于原組成材料而滿足各種不同的要求。復(fù)合材料的基體材料分為金屬和非金屬兩大類。金屬基體常用的有鋁、鎂、銅、鈦及其合金。非金屬基體主要有合成樹脂、橡膠、陶瓷、石墨、碳等。增強(qiáng)材料主要有玻璃纖維、碳纖維、硼纖維、芳綸纖維、碳化硅纖維、石棉纖維、晶須、金屬絲和硬質(zhì)細(xì)粒等。
涂/鍍層不僅能夠裝飾零部件的外觀,修復(fù)零件表面缺陷,而且還能賦予零件表面特殊性能,包括提高表面硬度、耐磨性、耐蝕性、導(dǎo)電性和高溫抗氧化性等。涉及到的產(chǎn)品包括家用電器、汽車、門窗、金屬緊固件和電子產(chǎn)品等。由于技術(shù)的全新要求和產(chǎn)品的高要求化,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝?yán)斫獠灰?,于是?鍍層材料分層、開裂、腐蝕、變色等之類失效頻繁出現(xiàn),常引起供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛,所以導(dǎo)致了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。通過失效分析一系列分析驗(yàn)證手段,可以查找其失效的根本原因及機(jī)理,其在提高產(chǎn)品質(zhì)量、工藝改進(jìn)及責(zé)任仲裁等方面具有重
PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,品質(zhì)的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。由于成本以及技術(shù)的原因,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題。同一種失效模式,其中失效機(jī)理卻是是復(fù)雜多樣化的,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,才能找到真正的失效原因。
失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段,為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,芯片失效分析該如何處理?整理相關(guān)資料如下:
眾所周知,產(chǎn)品的失效會(huì)造成較嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失和品質(zhì)影響,然而PCB失效的模式多種多樣,失效根因也各不相同。PCB的主要材料是玻璃纖維和環(huán)氧樹脂的復(fù)合材料,分為單面板,雙面板和多層板。因此,如何快速地定位出PCB的失效根因,并對(duì)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能進(jìn)行優(yōu)化提升,已成為PCB行業(yè)的顯得尤為重要。
失效是指電子元器件出現(xiàn)的故障。各種電子系統(tǒng)或者電子電路的重要組成部分一般是不同類型的元器件,當(dāng)它需要的元器件較多時(shí),則標(biāo)志其設(shè)備的復(fù)雜程度就較高;反之,則低。一般還會(huì)把電路故障定義為:電路系統(tǒng)規(guī)定功能的喪失。
電子元件的發(fā)展歷史實(shí)際上是電子發(fā)展的簡史。電子技術(shù)是一種新技術(shù),在二十世紀(jì),它發(fā)展最快,使用最廣泛,它已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重要標(biāo)志。為了促進(jìn)電子信息技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展,就要提高電子元器件的可靠性,因此掌握電子元器件失效分析的技術(shù)就變得十分必要。
常見的IC失效模式:靜電損傷、金屬電遷移、芯片粘結(jié)失效、過電應(yīng)力損失、金屬疲勞、熱應(yīng)力、電遷移失效、物理損傷失效、塑料封裝失效、引線鍵合失效。說到MLCC失效原因,在產(chǎn)品正常使用情況下,失效的根本原因是MLCC 外部或內(nèi)部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產(chǎn)品的電性能、可靠性,給產(chǎn)品質(zhì)量帶來嚴(yán)重的隱患。