HCS300-I/SN 電特性測(cè)試報(bào)告

日期：2023-07-31 11:35:31 瀏覽量：857 作者：創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

使用半導(dǎo)體管特性圖示儀驗(yàn)證芯片管腳電特性曲線，通過(guò)開(kāi)路/短路測(cè)試檢查芯片是否損壞。 測(cè)試條件： 橫軸：X = 0.5V/div； 縱軸：Y = 0.5mA/div。