cl31b475kbhnnne 切片測(cè)試報(bào)告
日期:2022-08-01 16:14:16 瀏覽量:1995 作者:創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心
Cross Section&OM檢查結(jié)果 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):GJB4152-2001 對(duì)#1 樣品剖面觀察未發(fā)現(xiàn)明顯工藝缺陷。 尺寸: 電極層數(shù)大約為 261 層 電極總厚度:1445.47μm 電極間距:4.14μm
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Cross Section&OM檢查結(jié)果 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):GJB4152-2001 對(duì)#1 樣品剖面觀察未發(fā)現(xiàn)明顯工藝缺陷。 尺寸: 電極層數(shù)大約為 261 層 電極總厚度:1445.47μm 電極間距:4.14μm
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