IC芯片是半導(dǎo)體行業(yè)的重要產(chǎn)物,用于各種電子設(shè)備和系統(tǒng),其性能與可靠性直接影響著電子設(shè)備的性能與壽命。在一些特殊情況下,需要通過(guò)烘烤配合來(lái)滿足芯片的生產(chǎn)要求。下面就介紹一下IC芯片烘烤的條件和要求。
濕敏元器件及芯片的存儲(chǔ)環(huán)境,應(yīng)保持在溫度25℃左右,相對(duì)濕度(RH)<40%,如果存儲(chǔ)和作業(yè)的環(huán)境溫濕度高于標(biāo)準(zhǔn)范圍就需要管控濕敏器件及芯片的折封管制。還有一些縫隙可能肉眼無(wú)法觀察,但當(dāng)集成電路芯片放置于環(huán)境中時(shí),環(huán)境中的水分就會(huì)通過(guò)滲透的作用滲透至芯片內(nèi)部。而造成芯片的受潮。為增進(jìn)大家對(duì)芯片烘烤的認(rèn)識(shí),以下是創(chuàng)芯檢測(cè)整理的相關(guān)內(nèi)容,希望能給您帶來(lái)參考與幫助。
當(dāng)電子元器件儲(chǔ)存環(huán)境濕度過(guò)高時(shí),濕氣會(huì)透過(guò)封裝材料及元器件的接合面進(jìn)入到IC器件的內(nèi)部,造成內(nèi)部電路氧化腐蝕短路,以及組焊接過(guò)程中的高溫會(huì)使進(jìn)入IC內(nèi)部的潮濕氣體受熱膨脹產(chǎn)生壓力,使塑料從芯片或引腳框上的內(nèi)部分離(脫層)、線捆接損傷、芯片損傷、內(nèi)部裂紋和延伸到元件表面的裂紋,甚至發(fā)生元件鼓脹和爆裂,這將導(dǎo)致組裝件返修甚至報(bào)廢。更為重要的是那些看不見(jiàn)的、潛在的缺陷會(huì)溶入到產(chǎn)品中去,使產(chǎn)品的可靠性出現(xiàn)問(wèn)題。其它IC類(lèi)電子元件,大都也存在潮濕的危害問(wèn)題。電子元件烘干除氧化就顯得非常重要了。本文收集整理
PCB在制造完成之后,都有一個(gè)保質(zhì)期,超過(guò)這個(gè)保質(zhì)期就需要對(duì)PCB進(jìn)行烘烤,要不然容易使PCB在SMT上線生產(chǎn)時(shí),產(chǎn)生PCB爆板的問(wèn)題??景蹇梢匀コ齈CB線路板以及電子元器件上的水分,而且PCB線路板到達(dá)一定溫度以后,助焊劑能更好的與元器件和焊盤(pán)結(jié)合,焊接的效果也會(huì)大大改善。PCB的保存時(shí)間以及烘烤PCB的溫度和時(shí)間都是有行業(yè)規(guī)范的。詳細(xì)內(nèi)容如下:
集成電路分為商業(yè)級(jí)器件、工業(yè)級(jí)器件、汽車(chē)工業(yè)級(jí)器件和軍品級(jí)器件等幾個(gè)不同的使用溫度級(jí)別。工作溫度范圍也各不相同。商業(yè)級(jí)器件是0~+70℃、工業(yè)級(jí)器件是-40~+85℃、汽車(chē)工業(yè)級(jí)器件是-40℃~+125℃,軍品級(jí)器件是-55℃~+155℃。可以根據(jù)使用器件的溫度級(jí)別和烘烤溫度判斷是否能夠烘烤。
IC、BGA等器件,被稱(chēng)為濕敏器件,其存儲(chǔ)及烘烤都是根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)要求。采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)。而其此種結(jié)構(gòu)特點(diǎn),決定了集成電路芯片會(huì)由不同材質(zhì)的材料組成。而這些材料的結(jié)合部位,就會(huì)產(chǎn)生或多或少的縫隙。這些縫隙可能肉眼無(wú)法觀察,但當(dāng)集成電路芯片放置于環(huán)境中時(shí),環(huán)境中的水分就會(huì)通過(guò)滲透的作用滲透至芯片內(nèi)部。而造成芯片的受潮。
集成電路分為商業(yè)級(jí)器件、工業(yè)級(jí)器件、汽車(chē)工業(yè)級(jí)器件和軍品級(jí)器件等幾個(gè)不同的使用溫度級(jí)別。工作溫度范圍也各不相同。商業(yè)級(jí)器件是0~+70℃、工業(yè)級(jí)器件是-40~+85℃、汽車(chē)工業(yè)級(jí)器件是-40℃~+125℃,軍品級(jí)器件是-55℃~+155℃??梢愿鶕?jù)使用器件的溫度級(jí)別和烘烤溫度判斷是否能夠烘烤,本文收集整理了一些資料,期望本文能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
在一些工廠中,也會(huì)存在芯片無(wú)法管控而導(dǎo)致芯片受潮嚴(yán)重的情況。此時(shí)也是不得不對(duì)芯片進(jìn)行烘烤除濕。盡量避免芯片進(jìn)行高溫烘烤,可以選用低于100℃的低溫微溫烘烤。如此可避免水分的突然汽化而帶來(lái)的膨脹。本文收集整理了一些元器件烘烤資料,期望本文能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試