電子產(chǎn)品測(cè)試機(jī)構(gòu):可靠性測(cè)試芯片的方法
日期:2022-01-07 13:30:00 瀏覽量:2010 標(biāo)簽: 芯片檢測(cè) 可靠性測(cè)試 電子產(chǎn)品檢測(cè)
芯片的好壞主要是由市場(chǎng),性能和可靠性三要素決定的。首先,在芯片的開發(fā)前期,需要對(duì)市場(chǎng)進(jìn)行充分調(diào)研,才能定義出符合客戶需求的SPEC;其次是性能,IC設(shè)計(jì)工程師設(shè)計(jì)出來的電路需要通過designer仿真,DFT電路驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)室樣品評(píng)估,及樣品出貨前的FT,才能認(rèn)為性能符合前期定義的要求;最后是可靠性,由于經(jīng)過測(cè)試的芯片只能保證客戶在剛拿到樣品的時(shí)候是好的,所以還需要進(jìn)行一系列應(yīng)力測(cè)試,模擬客戶端一些嚴(yán)苛使用條件對(duì)芯片的沖擊,以評(píng)估芯片的壽命及可能存在的質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
可靠度技術(shù)概念
可靠度是產(chǎn)品以標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件下,在特定時(shí)間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力,可靠度是量測(cè)失效的可能性,失效的比率,以及產(chǎn)品的可修護(hù)性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求,我們可以執(zhí)行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規(guī)范的可靠度的測(cè)試。
測(cè)試機(jī)臺(tái)種類
高溫貯存試驗(yàn) (HTST, High Temperature Storage test)
低溫貯存試驗(yàn)(LTST, Low Temperature Storage test)
溫濕度貯存試驗(yàn) (THST, Temperature & Humidity Storage test)
溫濕度偏壓試驗(yàn) (THB, Temperature & Humidity with bias test)
高溫水蒸汽壓力試驗(yàn) (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)
高加速溫濕度試驗(yàn) (HAST, Highly Accelerated Stress test )
溫度循環(huán)試驗(yàn) (TCT, Temperature Cycling test)
溫度沖擊試驗(yàn) (TST, Thermal Shock test )
高溫壽命試驗(yàn) (HTOL, High Temperature Operation Life test )
高溫偏壓試驗(yàn) (BLT, Bias Life test)
回焊爐 (Reflow Test)
技術(shù)原理
可靠性可以定義為產(chǎn)品在特定的使用環(huán)境條件下,在既定的時(shí)間內(nèi),執(zhí)行特定功能,成功達(dá)成工作目標(biāo)的機(jī)率。對(duì)于可靠性最直接影響的環(huán)境因子有,溫度變化、溫度、濕度、機(jī)械應(yīng)力、電壓…等等??煽啃詼y(cè)試主要針對(duì)組件在各種環(huán)境下進(jìn)行實(shí)驗(yàn),以加速各組件老化及發(fā)生失效現(xiàn)象,進(jìn)而達(dá)到改善設(shè)計(jì)、材料或是制程參數(shù)的目的。
環(huán)境測(cè)試(Environment Test)
高溫貯存試驗(yàn)(High Temperature Storage Test) : 在高溫的狀態(tài)下,使組件加速老化。可使電氣性能穩(wěn)定,以及偵測(cè)表面與結(jié)合缺陷。
低溫貯存試驗(yàn)(Low Temperature Storage Test) : 在極低的溫度下,利用膨脹收縮造成機(jī)械變型。對(duì)組件結(jié)構(gòu)上造成脆化而引發(fā)的裂痕。
溫濕度貯存試驗(yàn)(Temperature Humidity Storage Test) : 以高溫潮濕的環(huán)境,加速化學(xué)反應(yīng)造成腐蝕現(xiàn)象。測(cè)試組件的抗蝕性。
高溫水蒸汽壓力試驗(yàn)(Pressure Cook Test)/高加速溫濕度試驗(yàn)(High Acclerate Stress Test) : 與溫濕度貯存試驗(yàn)原理相同,不同地方是在加濕過程中,壓力大于大氣壓力,更加速了腐蝕速度,引發(fā)出封裝不良的產(chǎn)品,內(nèi)部因此而腐蝕。
溫度循環(huán)試驗(yàn)(Temperature Cycling Test) : 使零件冷熱交替幾個(gè)循環(huán),利用膨脹系數(shù)的差異,造成對(duì)組件的影響??捎脕硖蕹蚓Я)p打線及封裝等受溫度變化而失效之零件。
溫度沖擊試驗(yàn)(Thermal shock Test) : 基本上跟溫度循環(huán)試驗(yàn)原理一樣,差異是加快溫度變化速度。測(cè)定電子零件曝露于極端高低溫情況下之抗力,可以偵測(cè)包裝密封﹑晶粒結(jié)合﹑打線結(jié)合﹑基體裂縫等缺陷。
高溫壽命試驗(yàn)(High Temperature Operating Life Test) : 利用高溫及電壓加速的方法,在高溫下加速老化,再外加訊號(hào)進(jìn)去,仿真組件執(zhí)行其功能的狀態(tài)。藉短時(shí)間的實(shí)驗(yàn),來評(píng)估IC產(chǎn)品的長(zhǎng)時(shí)間操作壽命。
前處里(Precondition Test) 對(duì)零件執(zhí)行功能量測(cè)﹑外觀檢查﹑超音波掃瞄(SAT) ﹑溫度循環(huán)(Temperature Cycling ) ﹑烘烤(Bake )浸濕( Moisture Soak )等程序。仿真組件在開始使用前所經(jīng)歷的運(yùn)輸、儲(chǔ)存、回焊等變化做為其它可靠性試驗(yàn)之前置處理。
運(yùn)送測(cè)試(Transportation Test)
震動(dòng)測(cè)試(Vibration Test):仿真地面運(yùn)輸或產(chǎn)品操作使用時(shí),所產(chǎn)生的震動(dòng)環(huán)境。將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷,經(jīng)由震動(dòng)行為加速缺陷的劣化狀況,進(jìn)而導(dǎo)致組件機(jī)制失效。
機(jī)械沖擊測(cè)試(Mechanical Shock Test):將試件在一定的高度上,沿斜滑軌下滑與底部的障礙物相撞,而產(chǎn)生沖擊。
可靠性已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn)。長(zhǎng)期以來,人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志,這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個(gè)方面,還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌。因?yàn)?,如果產(chǎn)品不可靠,即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說,可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。我們的檢測(cè)服務(wù)范圍包括:電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。熱忱歡迎來電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。