一文搞懂LED芯片失效和封裝失效的原因分析

日期:2022-08-08 16:39:00 瀏覽量:1886 標(biāo)簽: 封裝失效 LED芯片 失效分析

LED芯片核心構(gòu)架是半導(dǎo)體晶片,由P型半導(dǎo)體和N型半導(dǎo)體,P型半導(dǎo)體在晶片空穴占主導(dǎo)地位,當(dāng)P型半導(dǎo)體和N型半導(dǎo)體連接起來(lái)時(shí),將形成一個(gè)P-N結(jié)。當(dāng)電流通過(guò)導(dǎo)線作用在半導(dǎo)體晶片時(shí),電子將被推向P區(qū),在P區(qū)里電子和空穴符合,以光子形式發(fā)出能量,這也是LED芯片發(fā)光的工作原理,光的波長(zhǎng)也是光的顏色,將由P-N結(jié)的材料所決定的。LED芯片主要材料為單晶硅,作為L(zhǎng)ED光源最核心的部件,其質(zhì)量決定著產(chǎn)品的性能及可靠性。任何不當(dāng)使用都可能會(huì)損傷芯片,使得芯片在使用過(guò)程中出現(xiàn)失效。對(duì)于應(yīng)用工程師,芯片失效分析是最棘手的問(wèn)題之一。下面主要對(duì)LED芯片失效進(jìn)行簡(jiǎn)要分析,供大家參考。 

LED芯片特點(diǎn):

1.是四元西,采用MOVPE工藝制備

2.信賴性好

3.應(yīng)用廣泛

4.安全性高

5.使用壽命長(zhǎng)

主要分類為:

1.MB芯片:金屬粘著芯片,屬于UEC的專利產(chǎn)品

2.GB芯片:粘著結(jié)合芯片,數(shù)據(jù)UEC的專利產(chǎn)品

3.TS芯片:透明襯底芯片,屬于HP的專利產(chǎn)品

4.AS芯片:吸收襯底芯片

LED芯片結(jié)構(gòu)為倒裝結(jié)構(gòu)和垂直結(jié)構(gòu)

LED芯片重要參數(shù)為:

lf:正向工作電流

VF:正向工作電壓

V-I特性:發(fā)光二級(jí)體的電壓與電流關(guān)系

IV:發(fā)光強(qiáng)度

-90°- +90°:LED芯片的發(fā)光角度

Δλ:光譜半寬度

IFm:最大正向直流電流

VRm:最大反向電壓

Pm:允許功耗

一文搞懂LED芯片失效和封裝失效的原因分析

LED光源已出現(xiàn)在傳統(tǒng)照明等領(lǐng)域,但LED光源尚存在很多沒(méi)有解決的問(wèn)題。其中包括一致性較差、成本較高和可靠性差等,其中最主要的問(wèn)題就是穩(wěn)定性和可靠性問(wèn)題。雖然目前預(yù)測(cè)LED光源的壽命超過(guò)5萬(wàn)小時(shí)。但這個(gè)壽命指的是理論壽命,光源在25℃下的使用壽命。在實(shí)際使用過(guò)程中,會(huì)遇到高溫、高濕等惡劣環(huán)境,放大LED光源缺陷,加速材料老化,使LED光源快速失效。

失效模式的物理機(jī)理

LED燈珠是一個(gè)由多個(gè)模塊組成的系統(tǒng)。每個(gè)組成部分的失效都會(huì)引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠,失效模式有將近三十種,如表1,LED燈珠的失效模式表所示。這里將LED從組成結(jié)構(gòu)上分為芯片和外部封裝兩部分。 那么, LED失效的模式和物理機(jī)制也分為芯片失效和封裝失效兩種來(lái)進(jìn)行討論。

LED燈珠失效模式

表1 LED燈珠失效模式

一、引起LED芯片失效的因素主要包括:靜電、電流和溫度。

靜電放電可釋放瞬間超高電壓,給LED芯片帶來(lái)很大的危害,ESD導(dǎo)致的LED芯片失效分為軟失效和硬失效兩種模式。由靜電帶來(lái)的高電壓/電流導(dǎo)致LED芯片短路成為硬失效模式。

LED芯片短路的原因是過(guò)高的電壓使電解質(zhì)破裂,或者過(guò)高的電流密度是芯片中產(chǎn)生電流通路。

靜電釋放稍微低一些的電壓/電流會(huì)導(dǎo)致LED芯片的軟失效。軟失效通常伴隨著芯片反向漏電流的減小,這可能是由于高反向電流使一部分漏電流的路徑消失引起的。

相比于垂直LED芯片,靜電對(duì)水平LED芯片的危害較大。因?yàn)樗絃ED芯片的電極在芯片同一側(cè),靜電產(chǎn)生的瞬間高電壓更容易使芯片上的電極短路,從而引起LED芯片失效。

大電流也會(huì)帶來(lái)LED芯片的失效:一方面大電流會(huì)帶來(lái)比較高的結(jié)溫;另一方面,具有高動(dòng)力能的電子進(jìn)入了PN結(jié)會(huì)使Mg-H鍵和Ga-N鍵斷裂。

Mg-H鍵的斷裂會(huì)進(jìn)一步激活p層的載流子,使LED芯片在老化開(kāi)始時(shí)有一個(gè)光功率上升階段,而Ga-N鍵的斷裂會(huì)形成氮空位。

氮空位增加了非輻射復(fù)合的可能性,從而解釋了器件的光功率的衰減。氮空位的形成要達(dá)到平衡時(shí)一個(gè)很漫長(zhǎng)的過(guò)程,這是LED芯片緩慢老化的主要原因。

同時(shí),大電流會(huì)帶來(lái)LED芯片內(nèi)部的電流擁擠,LED芯片內(nèi)的缺陷密度越大,電流擁擠的現(xiàn)象越嚴(yán)重。

過(guò)大的電流密度會(huì)引起金屬的電遷移現(xiàn)象,使得LED芯片失效。另外InGaN發(fā)光二極管在電流和溫度雙重作用下,在有效摻雜的p層中還會(huì)出現(xiàn)很不穩(wěn)定的Mg-H2復(fù)合物。

溫度對(duì)LED芯片的影響主要是使內(nèi)量子效率降低和LED芯片壽命變短。

這是因?yàn)閮?nèi)量子效率是溫度函數(shù),溫度越高內(nèi)量子效率越低,同時(shí),溫度對(duì)材料的老化作用會(huì)使歐姆接觸和LED芯片內(nèi)部材料的性能變差。

另外,高的結(jié)溫使得芯片內(nèi)溫度分布不均勻,產(chǎn)生應(yīng)變,從而降低內(nèi)量子效率和芯片的可靠性。熱應(yīng)力大到一定程度,還可能造成LED芯片破裂。

二、引起LED封裝失效的因素主要包括:溫度、濕度和電壓。

目前,研究的最為深入和廣泛的是溫度對(duì)LED封裝可靠性的影響。溫度使LED模塊及系統(tǒng)失效的原因在于以下幾個(gè)方面:

(1)高溫會(huì)使封裝材料降解加快、性能下降;

(2)結(jié)溫對(duì)LED的性能會(huì)產(chǎn)生很大的影響。過(guò)高的結(jié)溫會(huì)使熒光粉層燒黑碳化,使得LED光效急劇降低或造成災(zāi)難性失效。

另外,由于硅膠和熒光粉顆粒之間的折射率和熱膨脹系數(shù)不匹配,過(guò)高的溫度會(huì)使熒光粉的轉(zhuǎn)換效率下降,并且摻的熒光粉比例越高,光效下降的越厲害;

(3)由于封裝材料之間熱傳導(dǎo)系數(shù)的不匹配,溫度梯度和溫度分布的不均勻,材料內(nèi)部可能產(chǎn)生裂紋或者在材料之間界面產(chǎn)生脫層。

這些裂紋及脫層都會(huì)引起光效下降,芯片、熒光粉層之間的脫層可使取光效率下降,熒光粉層與灌封硅膠之間的脫層最高可使取光效率下降20%以上。

硅膠與基板之間的脫層甚至有可能導(dǎo)致金線斷裂,造成災(zāi)難性失效。

通過(guò)有關(guān)高濕環(huán)境實(shí)驗(yàn)研究發(fā)現(xiàn),濕氣的侵入不但使得LED光效下降,而且有可能導(dǎo)致LED的災(zāi)難性失效。

通過(guò)85℃/ 85%RH高溫高濕可靠性加速實(shí)驗(yàn)研究發(fā)現(xiàn),濕氣在分層缺陷的形成中起著重要的作用,分層現(xiàn)象的產(chǎn)生使得LED的光效下降,不同芯片表面粗糙不同導(dǎo)致了不同的失效模式。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的LED芯片失效分析相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè),實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

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