假冒元件相關(guān)資訊
電子元器件X-射線掃描檢測(cè)假冒元件
X射線,俗稱X-RAY,具有穿透物體進(jìn)行透視的功能,因此常常用來進(jìn)行物體內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。應(yīng)用范圍廣泛,其中電子半導(dǎo)體行業(yè)就需要借助X射線檢測(cè)設(shè)備的性能來進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)。電子半導(dǎo)體經(jīng)常需要檢測(cè)SMT,電路板貼片。需要檢測(cè)的項(xiàng)目包括內(nèi)部氣泡,內(nèi)部夾渣,夾雜,裂紋,漏焊等。
2021-12-15 15:14:47
查看詳情
熱門文章
什么是電氣性能?電氣性能測(cè)試包括什么?
UV測(cè)試是什么?UV測(cè)試通用檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及流程
焊縫檢測(cè)探傷一級(jí)二級(jí)三級(jí)標(biāo)準(zhǔn)是多少?
芯片開蓋(Decap)檢測(cè)的有效方法及全過程細(xì)節(jié)
芯片切片分析是什么?如何進(jìn)行切片分析試驗(yàn)?
溫升測(cè)試(Temperature rise test)-電性能測(cè)試
CNAS認(rèn)證是什么?實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行CNAS認(rèn)可的目的及意義
什么是IC測(cè)試?實(shí)現(xiàn)芯片測(cè)試的解決方法介紹
芯片發(fā)熱是不是芯片壞了?在多少溫度下會(huì)損壞
熱門標(biāo)簽