為什么會(huì)產(chǎn)生虛焊現(xiàn)象？芯片虛焊怎么解決

虛焊是最常見(jiàn)的一種缺陷。其實(shí)就是在焊接過(guò)程中，因?yàn)榧?xì)節(jié)處理不到位，導(dǎo)致表面上的焊接雖然順利進(jìn)行，但是產(chǎn)品或者效果受到的一定影響的現(xiàn)象。這種情況的出現(xiàn)，往往意味著產(chǎn)品的失敗，所以需要認(rèn)真對(duì)待這個(gè)問(wèn)題。有時(shí)在焊接以后看上去似乎將前后的鋼帶焊在一起，但實(shí)際上沒(méi)有達(dá)到融為一體的程度，結(jié)合面的強(qiáng)度很低，焊縫在生產(chǎn)線上要經(jīng)過(guò)各種復(fù)雜的工藝過(guò)程，特別是要經(jīng)過(guò)高溫的爐區(qū)和高張力的拉矯區(qū)，所以虛焊的焊縫在生產(chǎn)線上極易‘造成斷帶事故，給生產(chǎn)線正常運(yùn)行帶來(lái)很大的影響。

虛焊的實(shí)質(zhì)就是焊接時(shí)焊縫結(jié)合面的溫度太低，熔核尺寸太小甚至未達(dá)到熔化的程度，只是達(dá)到了塑性狀態(tài)，經(jīng)過(guò)碾壓作用以后勉強(qiáng)結(jié)合在一起，所以看上去焊好了，實(shí)際上未能完全融合。

能夠造成虛焊現(xiàn)象的原因大概有這幾點(diǎn)：

1、貼片電容的鎳錫成分比例失調(diào)，導(dǎo)致在焊料上錫過(guò)程中受力不均勻。

2、在SMT焊接中，電容安裝的位置或者板面位置出現(xiàn)偏離和焊料印刷不均勻。

3、PCB板面的電容安裝位置設(shè)計(jì)不合理，實(shí)際工作溫度太低又或是焊料沒(méi)有充分融化。

相對(duì)應(yīng)的解決辦法有：

1、在電容進(jìn)行焊接時(shí)確保溫度的穩(wěn)定性和范圍。

2、通過(guò)計(jì)算測(cè)試重新設(shè)計(jì)焊盤并定時(shí)清洗上錫所需的鋼網(wǎng)。

3調(diào)整設(shè)備角度確保產(chǎn)品和板面的穩(wěn)定性。

其他原因或許也存在，但是出現(xiàn)過(guò)的情況還是按上述為大多數(shù)現(xiàn)象。分析虛焊的原因和步驟可以按以下順序進(jìn)行：

(1)先檢查焊縫結(jié)合面有無(wú)銹蝕、油污等雜質(zhì)，或凸凹不平、接觸不良，這樣會(huì)使接觸電阻增大，電流減小，焊接結(jié)合面溫度不夠。

(2)檢查焊縫的搭接量是否正常，有無(wú)驅(qū)動(dòng)側(cè)搭接量減小或開(kāi)裂現(xiàn)象。搭接量減小會(huì)使前后鋼帶的結(jié)合面積太小，使總的受力面減小而無(wú)法承受較大的張力。特別是驅(qū)動(dòng)側(cè)開(kāi)裂現(xiàn)象會(huì)造成應(yīng)力集中，而使開(kāi)裂越來(lái)越大，而最后拉斷。

(3)檢查電流設(shè)定是否符合工藝規(guī)定，有無(wú)在產(chǎn)品厚度變化時(shí)電流設(shè)定沒(méi)有相應(yīng)隨之增加，使焊接中電流不足而產(chǎn)生焊接不良。

(4)檢查焊輪壓力是否合理，若壓力不夠，則會(huì)因接觸電阻過(guò)大，實(shí)際電流減小，雖然焊接控制器有恒電流控制模式，但電阻增大超過(guò)一定的范圍(一般為15％)，則會(huì)超出電流補(bǔ)償?shù)臉O限，電流無(wú)法隨電阻的增加而相應(yīng)增加，達(dá)不到設(shè)定的數(shù)值。這種情況下系統(tǒng)正常工作時(shí)會(huì)發(fā)出報(bào)警。

總結(jié)，在實(shí)際操作中，若一時(shí)無(wú)法分析出虛焊發(fā)生的確切原因，可以將鋼帶的頭尾清理干凈以后，加大焊接搭接量，適當(dāng)增加焊接電流和焊輪壓力再焊一次，并在焊接中密切注意焊縫的形成狀態(tài)，大部分情況下都可以應(yīng)急處理好問(wèn)題。當(dāng)然，如果出現(xiàn)控制系統(tǒng)問(wèn)題，或電網(wǎng)電壓波動(dòng)等使焊縫虛焊就必須采取其他措施加以解決。深圳創(chuàng)芯在線檢測(cè)技術(shù)有限公司是國(guó)內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1000平米以上。檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)、元器件X-Ray檢測(cè)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。