失效分析報告包括哪些內(nèi)容?電子產(chǎn)品檢測公司
日期:2022-04-21 15:02:51 瀏覽量:1447 標(biāo)簽: 電子產(chǎn)品檢測 失效分析
電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。電子產(chǎn)品失效通俗來講,狹義上的失效指的是機(jī)電產(chǎn)品喪失功能的現(xiàn)象,而失效分析則是分析診斷失效的模式、原因和機(jī)理,研究采取補(bǔ)救預(yù)測和預(yù)防措施的技術(shù)活動和管理活動,同時,與之相關(guān)的理論、技術(shù)和方法相交叉的綜合學(xué)科則稱之為失效學(xué)。
一、失效的分類
我們常說的失效從失效模式和失效機(jī)理上來說,一般按下述方法進(jìn)行分類:
1、斷裂失效:斷裂失效常分為韌性斷裂和脆性斷裂兩類,而脆性斷裂又分為低溫脆性斷裂、輻射脆化斷裂、氫損傷(氫脆)、應(yīng)力腐蝕、液態(tài)金屬脆化、液體侵蝕損傷、高溫應(yīng)力斷裂(即蠕變斷裂)、疲勞斷裂這幾種。
2、非斷裂失效:基本分為磨損失效、腐蝕失效、變形失效幾種,磨損失效一般包含磨粒磨損、粘著磨損兩種,腐蝕失效分為氧化腐蝕和電化學(xué)腐蝕兩種,變形時效分為彈性變形和塑性變形失效兩種。
3、復(fù)合失效機(jī)理,顧名思義就是多種失效機(jī)理綜合作用而成導(dǎo)致的失效,例如低周疲勞導(dǎo)致的斷裂即是韌性斷裂和疲勞斷裂兩種機(jī)理復(fù)合作用而成的,再如機(jī)件受高溫應(yīng)力+電化學(xué)腐蝕復(fù)合作用下,會出現(xiàn)燒蝕熱蝕的失效現(xiàn)象等等。
二、失效的發(fā)展過程
產(chǎn)品失效的發(fā)展過程一般遵循“浴盆曲線”狀,可以將其分為三個時期:
1、早期失效期,即產(chǎn)品使用初期,由于設(shè)計(jì)缺陷或者制造缺陷而導(dǎo)致明顯的失效。
2、偶然失效期,在理想狀況下,產(chǎn)品是不應(yīng)出現(xiàn)“失效”現(xiàn)象的,而由于環(huán)境、操作方法、管理不善等原因?qū)е碌臐撛谌毕?,會在某一時期導(dǎo)致偶然的失效,該階段稱為偶然失效期。
3、磨損失效期,該階段是產(chǎn)品在出現(xiàn)失效萌芽之后的曲線增長到最終失效期,,又稱為損耗失效。
產(chǎn)品按照其失效發(fā)展過程分類對于可靠性工程來說是十分有用的。
三、失效分析的實(shí)施步驟
失效分析的原則是先進(jìn)行非破壞性分析,后進(jìn)行破壞性分析;先外部分析,后內(nèi)部(解剖)分析;先調(diào)查了解與失效有關(guān)的情況(應(yīng)用條件、失效現(xiàn)象等),后分析失效器件。
1、保護(hù)失效現(xiàn)場;基本原則就是保護(hù)現(xiàn)場的一切證據(jù)維護(hù)其原狀。
2、偵察失效現(xiàn)場,收集背景材料;現(xiàn)場偵察并記錄的項(xiàng)目包括但不限于以下內(nèi)容:
(1)失效部件及碎片的尺寸大小、形狀和散落方位;
(2)周圍散落的金屬屑、粉末、氧化皮、潤滑殘留物及一切可疑物質(zhì)等;
(3)失效部件表面特征;
(4)設(shè)備或部件的特征;
(5)周圍環(huán)境條件。
3、聽取操作人員及佐證人員描述失效現(xiàn)象:
(1)制定失效分析計(jì)劃;
(2)執(zhí)行失效分析計(jì)劃;
(3)綜合評定失效分析結(jié)果;
(4)研究補(bǔ)救措施和預(yù)防措施;
(5)起草、評審并最終提出失效分析報告。
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