X-射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用及標(biāo)準(zhǔn)介紹

日期:2021-10-28 16:33:00 瀏覽量:2055 標(biāo)簽: X-射線檢測(cè)

要知道x射線具有極強(qiáng)的穿透力,是一種人眼看不見(jiàn)但能穿透物體的射線。這種穿透力能透過(guò)許多對(duì)可見(jiàn)光不透明的物質(zhì),如墨紙、木料、電子設(shè)備等。它根據(jù)被檢工件的成分、密度、厚度的不同,而對(duì)射線產(chǎn)生不同的吸收或者散射的特性,從而得到被檢工件的質(zhì)量、尺寸、特性的判斷。以下內(nèi)容由創(chuàng)芯檢測(cè)網(wǎng)整理,提供給您參考。

X-射線檢測(cè):射線檢測(cè)技術(shù)可以分為以下四種應(yīng)用類(lèi)型。

1.質(zhì)量檢測(cè):可用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)。

2.測(cè)量厚度:可用于在線、實(shí)時(shí)、非接觸厚度測(cè)量。

3.物品檢查:可用于機(jī)場(chǎng)、車(chē)站、海關(guān)檢查,對(duì)結(jié)構(gòu)、尺寸測(cè)定。

4.動(dòng)態(tài)研究:可用于彈道、爆炸、核技術(shù)、鑄造工藝等動(dòng)態(tài)過(guò)程研究。

X射線探傷優(yōu)點(diǎn):

X射線實(shí)時(shí)成像直觀、照相底片可以長(zhǎng)時(shí)間的保存,對(duì)薄壁工件無(wú)損探傷靈敏度較高。 對(duì)體積狀缺陷敏感,缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測(cè)量。對(duì)工件表面光潔度沒(méi)有嚴(yán)格要求,材料晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)。所以在壓力容器的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。

X射線探傷缺點(diǎn):

對(duì)面狀缺陷不敏感,射線對(duì)人體有害,射線源昂貴,防護(hù)成本更高。射線照相法底片評(píng)定周期較長(zhǎng),對(duì)厚壁工件檢測(cè)靈敏度低。

X-射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用及標(biāo)準(zhǔn)介紹

工業(yè)X射線探傷常用標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介及適用范圍

1、中國(guó)鍋爐、壓力容器行業(yè)射線探傷標(biāo)準(zhǔn):

JB/T4730.2—2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第二部分:射線檢測(cè)

GB/T3323—2005鋼溶化焊對(duì)接接頭射線照相及焊縫質(zhì)量分級(jí)

2、美國(guó)標(biāo)準(zhǔn):ASME第五卷A分冊(cè)第二章、B分冊(cè)第二十二章;

3、國(guó)標(biāo):

DG1410---2006  射線檢測(cè)(一般性要求)

DG1410.1---2006鋼對(duì)接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程

DG1410.2---2006小口徑管對(duì)接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程

DG1410.3---2006小口徑管對(duì)接接頭射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)規(guī)

4、JB/T4730.2—2005 標(biāo)準(zhǔn)將焊縫射線照相的質(zhì)量分為A級(jí)、AB級(jí)、B級(jí)三個(gè)級(jí)別(級(jí)別不同、照相靈敏度、清晰度、對(duì)比度不同)

B 級(jí)為,一般應(yīng)用于核容器焊縫檢驗(yàn);

A級(jí)為低級(jí),可應(yīng)用于一般結(jié)構(gòu)件焊縫檢驗(yàn);

AB為中間級(jí),主要應(yīng)用于鍋爐、壓力容器受壓對(duì)接焊縫檢驗(yàn);

5、JB/T4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)將焊縫質(zhì)量分為四個(gè)級(jí)別;

1級(jí)為,常用于有特別要求設(shè)備之對(duì)接焊縫質(zhì)量驗(yàn)收;

2級(jí)主要用于鍋爐、壓力容器的重要受壓對(duì)接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。

3級(jí)主要用于重要結(jié)構(gòu)件及鍋爐、壓力容器一般受壓對(duì)接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。

4極為低級(jí),要求焊縫質(zhì)量4級(jí)合格的產(chǎn)品不應(yīng)該再進(jìn)行RT檢驗(yàn)。

總的來(lái)說(shuō),射線照相法能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀,因而易于判定缺陷的性質(zhì),射線底片可作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究并作長(zhǎng)期保存。但這種方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高,檢驗(yàn)速度較慢,只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷,能定性但不能定量,且不適合用于有空腔的結(jié)構(gòu),對(duì)角焊、T型接頭的檢驗(yàn)敏感度低,不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。此外,射線對(duì)人體有害,需要采取適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施。

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