電子設(shè)備能否可靠地工作的基礎(chǔ)是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機、設(shè)備，就會使得整機、設(shè)備的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能滿足要求，而且還要付出極大的代價來維修。因此，應(yīng)該在電子元器件裝上整機、設(shè)備之前，就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除，為此就要對元器件進行篩選。
電子元器件測試篩選一般要求：1.不改變元器件固有可靠性，非破壞性試驗；2.對批次產(chǎn)品進行100%篩選；3.剔除早期失效品，提高元器件使用可靠性；4. 篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。
電子元器件測試篩選涉及到大量種類的儀器設(shè)備，以下為電子元器件測試篩選的相關(guān)測試項目及檢測儀器設(shè)備清單：
測試項目 | 檢測儀器設(shè)備 |
電測試 | 阻抗分析儀 |
高阻計 | |
耐壓測試儀 | |
半導體參數(shù)測試系統(tǒng) | |
高精度圖示儀 | |
網(wǎng)絡(luò)分析儀 | |
信號發(fā)生器 | |
頻譜分析儀 | |
數(shù)字集成電路測試系統(tǒng) | |
模擬集成電路測試系統(tǒng) | |
繼電器測試系統(tǒng) | |
LCR、電阻計等 | |
電源模塊測試系統(tǒng) | |
環(huán)境、應(yīng)力篩選 | 高低溫試驗箱：熱循環(huán)試驗 |
振動臺：振動試驗 | |
恒定加速度試驗臺：恒定加速度試驗 | |
可編程電源：電壓、功率老煉試驗 | |
電子負載：電流、功率老煉 | |
顆粒碰撞噪聲測試儀 | |
壽命/老化/老煉試驗 | 單片集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng) |
混合集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng) | |
電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng) | |
晶體振蕩器高溫老化測試系統(tǒng) | |
分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng) | |
分立器件間歇壽命試驗系統(tǒng) | |
電容器高溫老煉檢測系統(tǒng) | |
大功率晶體管老煉檢測系統(tǒng) | |
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng) | |
繼電器中電平壽命篩選系統(tǒng) | |
繼電器高電平壽命篩選系統(tǒng) | |
外觀檢查 | 光學顯微鏡 |
金相顯微鏡 | |
密封檢測 | 氦質(zhì)譜檢漏儀 |
碳氟化合物粗檢漏儀 | |
X射線照相 | X-RAY透射系統(tǒng) |
掃描聲學顯微鏡檢查 | 聲掃檢測設(shè)備 |
超聲掃描顯微鏡 |
