電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試檢驗標準大全

日期：2021-07-26 16:10:00 瀏覽量：2605 標簽: 環(huán)境試驗 可靠性測試

1、低溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

2、高溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3、恒定濕熱試驗

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

4、交變濕熱試驗

:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

5、振動試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動（正弦）    GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

6、溫度變化試驗

環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009 

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

8、自由跌落試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

9、機械沖擊試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

10、碰撞試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試檢驗標準大全

11、傾跌與翻倒試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

12、砂塵試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

13、鹽霧試驗

人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006 

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

14、溫度沖擊

環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

15、外殼防護試驗

外殼防護等級（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

16、低溫/振動(正弦)綜合試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

17、高溫/振動(正弦)綜合試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）

綜合：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 GB/T 2423.59-2008    

19、（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）

綜合GB/T 2423.102-2008

20、可靠性試驗

設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案   GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978

設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996  ，IEC 60605-6:1989

設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案   GB/T 5080.5-1985  ，IEC 60605-5:1982

設(shè)備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布)   GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978

可靠性試驗 第2部分：試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994

可靠性試驗 第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001

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