教你如何檢測(cè)IGBT管好壞的方法

日期：2024-03-25 16:59:02 瀏覽量：704 標(biāo)簽: IGBT檢測(cè)

什么是IGBT?IGBT即絕緣柵雙極型晶體管，是一種復(fù)合全控型電壓驅(qū)動(dòng)式功率半導(dǎo)體器件，是電力控制和電力轉(zhuǎn)換的核心器件，在高電壓和高電流的光伏逆變器、儲(chǔ)能裝置和新能源汽車(chē)等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。IGBT具有高輸入阻抗，低導(dǎo)通壓降，高速開(kāi)關(guān)特性和低導(dǎo)通狀態(tài)損耗等特點(diǎn)。

IGBT測(cè)試項(xiàng)目

為了檢測(cè)IGBT的性能、穩(wěn)定性和可靠性，IGBT測(cè)試是設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)。通過(guò)測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)早期潛在的問(wèn)題，從而提升其性能，讓用戶(hù)在使用過(guò)程中有良好的體驗(yàn)。

IGBT測(cè)試的項(xiàng)目主要有：

柵極-發(fā)射極閾值電壓VGE(TO)測(cè)試

柵極-發(fā)射極漏電流IGES測(cè)試

集電極-發(fā)射極截止電流ICES測(cè)試

集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat)測(cè)試

開(kāi)通時(shí)間ton測(cè)試：開(kāi)通時(shí)間是開(kāi)通延遲時(shí)間與集電極電流上升時(shí)間之和。

關(guān)斷時(shí)間toff測(cè)試：關(guān)斷時(shí)間是關(guān)斷延遲時(shí)間與電流下降時(shí)間之和。測(cè)試包含阻性負(fù)載和感性負(fù)載測(cè)試。

恢復(fù)時(shí)間測(cè)試：是針對(duì)IGBT上反向續(xù)流二極管的恢復(fù)時(shí)間進(jìn)行測(cè)試。

IGBT極性判斷方法

用萬(wàn)用表快速檢測(cè)IGBT之前，先要確定IGBT的極性。

柵極(G)：萬(wàn)用表設(shè)置到R×1KQ位置，開(kāi)始測(cè)量。如果一極和另外兩極的電阻值是無(wú)窮大，更換表筆后該極和另外兩極的電阻值依然是無(wú)窮大，則此極是柵極。

集電極(C)和發(fā)射極(E)：用萬(wàn)用表測(cè)量剩下的兩極，如果被測(cè)電阻為無(wú)窮大，更換表筆后被測(cè)電阻變小，在第一次測(cè)量到小電阻值時(shí)，判斷紅色表筆接集電極，黑色表筆接發(fā)射極。

IGBT好壞檢測(cè)——萬(wàn)用表

1. 設(shè)置萬(wàn)用表為R×1KQ(R×10KΩ)，黑表筆接C極，紅表筆接E極，此時(shí)萬(wàn)用表指針在零位。

2. 用手指同時(shí)觸及G極和C極，IGBT被觸發(fā)導(dǎo)通，好的IGBT會(huì)使萬(wàn)用表的指針指向某個(gè)電阻。

3. 再用手觸及G極和E極，此時(shí)IGBT被阻斷，如果萬(wàn)用表指針回零，則判斷IGBT是好的。

注意事項(xiàng)：

檢測(cè)時(shí)一定要將萬(wàn)用表設(shè)置在R×10KΩ，因?yàn)镽×1KΩ擋以下各檔萬(wàn)用表內(nèi)部電池電壓太低，在檢測(cè)過(guò)程中無(wú)法使IGBT導(dǎo)通，從而無(wú)法判斷IGBT的好壞。

檢測(cè)IGBT好壞的其它方法

1. 觀察外觀

首先檢查IGBT外觀是否有物理?yè)p壞、燒焦或裂紋等情況。如果表面有可見(jiàn)的損壞，IGBT可能已經(jīng)損壞。

2. 測(cè)試絕緣性

用萬(wàn)用表電阻測(cè)量功能來(lái)測(cè)試IGBT的絕緣性。將萬(wàn)用表的正極連接到IGBT的集電極上，將負(fù)極連接到發(fā)射極或柵極上(具體連接方式根據(jù)IGBT的引腳結(jié)構(gòu)而定)，如果顯示為無(wú)限電阻，則表示IGBT的絕緣性良好。如果顯示為導(dǎo)通或者具有很低的電阻值，那么IGBT可能存在絕緣性問(wèn)題。

3. 溫度測(cè)試

在正常操作條件下，通過(guò)紅外測(cè)溫儀或接觸式溫度計(jì)來(lái)測(cè)量IGBT的溫度。如果IGBT溫度異常升高，超過(guò)了正常工作溫度范圍，可能存在故障或問(wèn)題。

4. 激活測(cè)試

正常工作條件下，施加電壓來(lái)激活I(lǐng)GBT，并進(jìn)行相應(yīng)的電流和功率測(cè)試。在正確的電壓和電流下，如果IGBT無(wú)法正常工作、電流過(guò)大或功率損失較大，則可能存在問(wèn)題。

5. 頻率響應(yīng)測(cè)試

使用相應(yīng)的信號(hào)發(fā)生器和示波器來(lái)測(cè)試IGBT的頻率響應(yīng)。通過(guò)施加不同頻率的信號(hào)，并觀察輸出波形是否正常，如有任何畸變或失真，IGBT可能存在問(wèn)題。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

上一篇：電子產(chǎn)品檢測(cè)內(nèi)容有哪些？下一篇：薄膜電導(dǎo)率測(cè)試在材料科學(xué)中的重要性與應(yīng)用

相關(guān)閱讀

五月芯資訊回顧：原廠漲價(jià)函不斷，疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過(guò)去的五月，全球多地疫情反彈，大宗商品漲價(jià)延續(xù)，IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無(wú)意外，缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來(lái)梳理一下過(guò)去的一個(gè)月，業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00

查看詳情

馬來(lái)西亞管控延長(zhǎng)，被動(dòng)元件又懸了？

自五月以來(lái)，馬來(lái)西亞疫情不斷升溫，每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢(shì)之下，馬來(lái)西亞政府于6月1日開(kāi)始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后，每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢(shì)。

2021-06-18 15:41:07

查看詳情

內(nèi)存市場(chǎng)翻轉(zhuǎn)，漲價(jià)來(lái)襲！

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道，內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式，從去年12月到今年1月，漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù)，各類(lèi)內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開(kāi)始漲價(jià)，至今仍沒(méi)有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00

查看詳情

被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng)，MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道，MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶(hù)發(fā)出通知，強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張，即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場(chǎng)，臺(tái)廠國(guó)巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著，華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知，新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00

查看詳情

深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板，共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息，經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn)，深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板，侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專(zhuān)用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00

查看詳情

可靠性測(cè)試：常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類(lèi)型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的，可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)?？煽啃詼y(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn)，通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn)，一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱(chēng)為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00

查看詳情

產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。可通過(guò)可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo)，只是定性描述就顯得不夠，必須使之?dāng)?shù)量化，這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00

查看詳情

匯總：半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié)，無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。常見(jiàn)的失效分析方法有Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴，大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備，因此借用外力，使用對(duì)外開(kāi)放的資源，來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢？下面為大家整理一下：

2021-04-26 16:29:00

查看詳情

芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō)，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，通過(guò)芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程，最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述，希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00

查看詳情

值得借鑒！PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路，又稱(chēng)印刷電路板，是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了；它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì)；采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò)，提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵，要檢查PCB的質(zhì)量，必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹，一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42

查看詳情