集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

日期:2024-01-16 17:28:22 瀏覽量:1733 標(biāo)簽: 超聲波掃描顯微鏡檢測

超聲波掃描顯微鏡,是繼上一篇提到的X射線檢測設(shè)備以外,另一種重要的無損檢測設(shè)備,它利用超聲波對(duì)微觀物體進(jìn)行成像。與其他顯微技術(shù)相比,超聲波作為機(jī)械波,能夠在材料內(nèi)部振動(dòng)并傳播。當(dāng)其聲波傳播遇到不同材料的界面時(shí),部分聲波會(huì)反射,部分會(huì)穿透。這種發(fā)射回波的強(qiáng)度會(huì)因材料密度的差異而有所不同,因此,聲波的基本要素需要有一定的介質(zhì)(如純水)。介質(zhì)的距離越小,聲波傳播的速度就越快。這些不同的物理效應(yīng)決定了接收信號(hào)的特征,超聲波掃描顯微鏡利用這些特征,生成可視化的對(duì)比度顯微圖像,檢測人員可觀察圖像,發(fā)現(xiàn)材料內(nèi)部的缺陷。

隨著超聲波掃描檢測技術(shù)的發(fā)展,聲波信號(hào)的掃描模式已經(jīng)從最基本的A-掃描、B-掃描、C-掃描擴(kuò)展到多層截面X-掃描、C+T結(jié)合掃描的S-掃描,檢測人員可結(jié)合不同的樣品和缺陷特征,選擇不同的掃描模式或是將其組合運(yùn)用。對(duì)于界面缺陷的定位分析,無論采用哪種掃描模式,都是基于聲波信號(hào)在界面反射后是否發(fā)生相位變化來確定界面是否存在缺陷。

塑封器件屬于對(duì)潮濕敏感的非氣密性器件,與密封器件相比,其抵抗環(huán)境能力較差,尤其是潮氣入侵、腐蝕和應(yīng)力引起的缺陷比較突出。一旦塑封器件受到潮氣的侵入,在焊接等溫變條件下很容易發(fā)生各種反應(yīng)而導(dǎo)致分層。在分層部位聚集的水汽或離子在某些條件下(如焊接、溫變)會(huì)造成塑封器件內(nèi)部分層、鍵合損傷、金屬化腐蝕或熱膨脹,甚至發(fā)生爆米花現(xiàn)象。而超聲波掃描技術(shù)對(duì)材料內(nèi)部封裝結(jié)構(gòu)、裂紋、分層缺陷、間隙以及異物現(xiàn)象顯示了高靈敏性和有效性。

創(chuàng)芯在線檢測實(shí)驗(yàn)室已配置低頻15MHz、30MHz、50MHz、75MHz、到高頻100MHz、230MHz等全系探頭,可滿足集成電路SOP、DIP、PLCC、TO、QFP、BGA 、 SOT、QFN、TQFP、DFN、Flip Chip、WLCSP、FCBGA等不同封裝的集成電路及PCB板、IGBT、電容的檢測需求。多方位、全覆蓋的超聲波掃描檢測,可為客戶前期研發(fā)及工藝改善,提高其研發(fā)效率;為客戶把控質(zhì)量,提升客戶信任度;為終端產(chǎn)品查找失效原因,減少客訴避免損失。

下面,我們將介紹A-掃描、B-掃描、C-掃描、多層截面X-掃描和C+T結(jié)合掃描的S-掃描這五種重要的超聲波掃描模式,及超聲波掃描中一些具有特點(diǎn)的案例。

集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

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集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

創(chuàng)芯在線檢測之超聲波掃描案例分享:

集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

集成電路質(zhì)量檢測技術(shù)之超聲波掃描顯微鏡檢測

由以上案例可見,超聲波掃描檢測對(duì)塑封器件的內(nèi)部缺陷有著很強(qiáng)的鎖定能力,甚至對(duì)于樣品的重新打磨與打字跡象也能充分感知??梢姵暡⊕呙铏z測可在品質(zhì)把控、失效分析及真?zhèn)舞b別等方面都能發(fā)揮不可取代的作用。廣大客戶朋友如對(duì)超聲波掃描檢測有需求,歡迎聯(lián)系創(chuàng)芯在線檢測實(shí)驗(yàn)室,我們將以先進(jìn)的設(shè)備、精誠的態(tài)度竭誠為您服務(wù)。

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