低氣壓對產(chǎn)品性能的影響 電子元器件可靠性測試
日期:2023-07-19 15:05:00 瀏覽量:978 標簽: 可靠性測試
一、低氣壓環(huán)境
在地球引力作用下,空氣依附在地球周圍,形成大氣層,大氣層從地面一直向上延伸到數(shù)百公里高空。地球的引力使空氣具有一定重量形成大氣壓力,在某高度上的大氣壓力,是該點以上垂直于地面的單位面積上整個空氣柱的重量。
大氣壓是各向同性的,即在某一點上,不管在哪個方向上測量大氣壓都是相等的。大氣壓力的大小主要取決于海拔高度,隨高度的增加,大氣壓力逐漸降低,大氣逐漸變得稀薄。高度接近于5.5km處,大氣壓力降低到大約海平面標準大氣壓值的一半;接近16km處的大氣壓力為標準海平面值的1/10;在接近31km處的大氣壓力為海平面標準大氣壓值的1/100。
大氣壓力的降低,必然對高海拔地區(qū)使用的電工電子產(chǎn)品產(chǎn)生影響。我國約有50%的地球表面積高于海平面1000m,約有25%的面積高于海平面2000m。壓力梯度越大,壓力改變得越快,元器件損壞的機會就越多。
二、低氣壓環(huán)境對電子元器件的影響
01對散熱產(chǎn)品影響
低氣壓環(huán)境下的電子元器件可靠性解析
電工電子產(chǎn)品中有相當一部分是散熱產(chǎn)品,如電機、變壓器等,這些產(chǎn)品在使用中要消耗一部分電能,使其變成熱能,使產(chǎn)品溫度升高。散熱產(chǎn)品的溫升隨大氣壓的降低而增加。
散熱產(chǎn)品的熱耗散可以分成3種形式:傳導、對流和輻射。
大量散熱產(chǎn)品的散熱主要依靠對流,即依靠產(chǎn)品周圍的空氣流動來散熱,對流散熱一般又可分為強迫通風散熱和自然對流散熱。自然對流散熱是依靠產(chǎn)品發(fā)熱產(chǎn)生的溫度場,造成產(chǎn)品周圍空氣的溫度梯度,使空氣流動散熱。強迫通風散熱是通過強制措施,迫使空氣流過產(chǎn)品,帶走產(chǎn)品產(chǎn)生的熱量。
對強迫對流散熱來說,在體積流不變情況下,隨高度增加,大氣壓將伴隨著空氣密度降低??諝饷芏冉档蛯⒅苯佑绊憦娖葘α魃岬男Ч?。這是由于強迫對流散熱是依靠氣體的流動帶走熱量的。一般電機用的冷卻風扇,是保證流過電機的體積流量不變,當高度增加時,由于空氣密度下降,即使體積流量不變,氣流的質(zhì)量流量將隨之降低。
02對電子元器件性能的影響
高度增加氣壓降低,對電子元器件的性能也會產(chǎn)生影響。特別是以空氣作為絕緣介質(zhì)的設(shè)備,低氣壓對其影響更為顯著。在正常大氣條件下,空氣是絕好的絕緣介質(zhì),許多電器產(chǎn)品采用空氣作為絕緣介質(zhì)。當這些產(chǎn)品用于高海拔地區(qū)作為械設(shè)備時,由于大氣壓力降低,常常在電場強度較強的電極附近產(chǎn)生局部放電現(xiàn)象。更嚴重的是有時會發(fā)生空氣間隙擊穿,這意味著設(shè)備的正常工作受到破壞。
三、低氣壓環(huán)境下電子元器件的可靠性控制
01 元器件的合理選用
根據(jù)元器件在電路中的使用特性進行設(shè)計分析并合理選用元器件,是元器件可靠性的基礎(chǔ)。電子元器件的可靠性控制點應前移,從源頭抓起,即從設(shè)計選用、優(yōu)選廠家、壓縮品種、可靠性試驗、提高質(zhì)量等級抓起,使那些用代價換來的預防措施在源頭就發(fā)揮作用,而不能總是處于補救措施狀態(tài)。并且,應該從元器件可靠性物理分析角度,系統(tǒng)地進行失效信息的收集與分析、失效分析、破壞性物理分析、密封器件內(nèi)部氣氛分析、失效模式及機理與工藝的相關(guān)性分析、失效模式與影響分析等元器件的質(zhì)量與可靠性分析技術(shù)等,將元器件質(zhì)量與可靠性分析技術(shù)融入元器件產(chǎn)品設(shè)計、制造過程,實現(xiàn)元器件的可靠性增長。
02 元器件的監(jiān)制、試驗和驗收
元器件的生產(chǎn)、試驗和驗收,是保證元器件質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),也是航天產(chǎn)品元器件可靠性的關(guān)鍵控制點,其過程控制的好壞決定了元器件的固有質(zhì)量。電子元器件按功能劃分,有電子元件、分立器件和微電路等;按采購渠道劃分,有進口和國產(chǎn)元器件之分;按產(chǎn)品成熟性劃分,有貨架產(chǎn)品和新品器件。不同元器件有不同的控制要求,在下廠監(jiān)制和驗收、到貨檢驗時應有不同的處理方法和程序。因此,應將元器件分門別類地進行劃分,規(guī)定各類元器件的監(jiān)制方式、特殊試驗要求和驗收辦法,并明確相應的程序和執(zhí)行單位或部門。
03 破壞性物理分析
元器件DPA(破壞性物理分析)的主要目的是要防止有明顯或潛在缺陷的元器件裝機使用。除用于元器件的質(zhì)量鑒定外,在航天產(chǎn)品中,還用于元器件的驗收、裝機前元器件的質(zhì)量復查、元器件超期復驗以及元器件的失效分析。在一般產(chǎn)品上,DPA通常用于已裝機元器件的質(zhì)量驗證。在航天產(chǎn)品上,DPA必須在元器件裝機以前完成,因此,需明確航天產(chǎn)品用元器件進行DPA的時機、DPA的試驗項目、實施DPA的機構(gòu)、DPA的數(shù)據(jù)記錄要求和DPA結(jié)果的處理方法。
04 元器件的失效分析方法
元器件失效分析的主要任務是對失效的元器件進行必要的電、物理、化學的檢測,并結(jié)合元器件失效前后的具體情況及有關(guān)技術(shù)文件進行分析,以確定元器件的失效模式、失效機理和造成失效的原因。通過失效分析可以發(fā)現(xiàn)失效元器件的固有質(zhì)量問題,也有可能發(fā)現(xiàn)元器件因不按規(guī)定條件使用而失效地使用質(zhì)量問題,通過向有關(guān)方面反饋,促使責任方采取糾正措施,提高元器件的固有質(zhì)量或使用質(zhì)量。
相對來說,失效模式的確定比較簡單,而確定失效機理的難度較大,分析人員必須掌握元器件的設(shè)計、工藝和有關(guān)的理化知識,并有一定的實踐經(jīng)驗。此外,還要具備較復雜的儀器、設(shè)備。在明確失效機理后,還必須找出失效原因,才能避免重復失效,提高元器件的固有質(zhì)量或使用質(zhì)量。但根據(jù)失效機理確定失效原因,往往涉及失效現(xiàn)場和責任人等具體情況,確定起來有相當大的難度。
因此,首先要確定進行失效分析的單位,規(guī)定提交失效分析的程序和失效信息,以及產(chǎn)品研制各階段失效元器件的失效信息記錄要求等,然后,根據(jù)失效分析的結(jié)論,對引起失效的原因進行歸零處理。若為設(shè)計缺陷,應和生產(chǎn)廠家一起找出問題所在并進行改進;若為操作失誤,必須嚴格操作規(guī)范,避免引入人為的失誤。從而達到失效分析的目的,使器件制造和生產(chǎn)操作更上一個臺階。
05 元器件質(zhì)量信息的管理
在元器件選用、采購、監(jiān)制和驗收、篩選和復驗以及失效分析質(zhì)量保證環(huán)節(jié)中,存在大量的元器件質(zhì)量信息,例如,選用目錄外元器件的規(guī)格、型號、生產(chǎn)廠商、質(zhì)量等級以及在航天產(chǎn)品上的使用情況;國內(nèi)新品器件的研制廠家及新品器件使用情況;進口器件的質(zhì)量保證情況;元器件失效分析報告和處理情況等。
綜上所述,低氣壓會使電子元器件的性能受到很大影響,有時會導致直接損壞。
低氣壓環(huán)境條件對元器件的影響在正常大氣條件下是無法模擬的,必須按相關(guān)標準進行試驗。為此,一定要加強環(huán)境條件試驗的標準化工作,從設(shè)計環(huán)節(jié)就開始考慮環(huán)境變化對產(chǎn)品的影響,增強產(chǎn)品對環(huán)境的適應性,從而提高產(chǎn)品的可靠性。