晶振失效如何避免？電子產(chǎn)品第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)
日期：2022-10-12 15:56:11 瀏覽量：1222 標(biāo)簽: 電子產(chǎn)品檢測(cè) 晶振
晶振的好壞直接關(guān)系整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性，具體選擇不僅僅需要對(duì)晶振參數(shù)的詳細(xì)把控，也要不同參照不同系統(tǒng)的要求，選擇不適當(dāng)時(shí)可能會(huì)導(dǎo)致晶振不起振。本文將分析導(dǎo)致晶振失效的具體因素？如何避免或者解決這一問題。
_20221012155529_923.jpg "晶振失效如何避免？電子產(chǎn)品第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)")
一、物料選型時(shí)，參數(shù)不匹配導(dǎo)致晶振不起振
1、等效負(fù)載需要6PF而選擇了15PF；
解決辦法：更換符合要求的規(guī)格型號(hào)。必要時(shí)請(qǐng)與MCU原廠或者晶振廠商確認(rèn)。
2、頻率誤差（ppm）太大，導(dǎo)致實(shí)際頻率偏移標(biāo)稱頻率從而引起晶振不起振；
解決辦法：選擇合適的PPM值的產(chǎn)品。
3、負(fù)性阻抗過大太小都會(huì)導(dǎo)致晶振不起振
解決辦法：調(diào)節(jié)晶振外接電容，如圖3中C1 C2，一般而言，負(fù)性阻抗值應(yīng)滿足不少于晶振標(biāo)稱最大阻抗3-5倍。負(fù)性阻抗過大，可以將晶振外接電容Cd和Cg的值調(diào)大來降低負(fù)性阻抗；
4、激勵(lì)電平過大或者過小導(dǎo)致晶振不起振；
解決辦法：通過調(diào)整電路中的Rd的大小來調(diào)節(jié)振蕩電路對(duì)晶振輸出的激勵(lì)電平。一般而言，激勵(lì)電平越小越好，處理功耗低之外，還跟振蕩電路的穩(wěn)定性和晶振的使用壽命有關(guān)。
二、焊接、存儲(chǔ)等使用不規(guī)范導(dǎo)致晶振不起振
1、 焊接時(shí)溫度過高或時(shí)間過長(zhǎng)，導(dǎo)致晶振內(nèi)部電性能指標(biāo)出現(xiàn)異常而引起晶振不起振
解決辦法：解決辦法：焊接制程過程中一定要規(guī)范操作，對(duì)焊接時(shí)間和溫度的設(shè)定要符合晶振的要求。如有疑問可與我們聯(lián)系確認(rèn)。
2、儲(chǔ)存環(huán)境不當(dāng)導(dǎo)致晶振電性能惡化而引起不起振
解決辦法：盡可能在常溫常濕的條件下使用、保存，避免晶振或者電路板受潮。
3、EMC問題導(dǎo)致晶振不起振
解決辦法：一般而言，金屬封裝的制品在抗電磁干擾上優(yōu)于陶瓷封裝制品，如果電路上EMC較大，則盡量選用金屬封裝制品。另外晶振下面不要走信號(hào)線，避免帶來干擾。
三、晶振制造、質(zhì)量問題導(dǎo)致晶振不起振
1、晶振生產(chǎn)或運(yùn)輸中內(nèi)部水晶片破裂或損壞導(dǎo)致晶振不起振
解決辦法：更換好的晶振。平時(shí)需要注意運(yùn)輸過程中要用泡沫包厚一些，避免中途損壞；制程過程中避免跌落、重壓、撞擊等，一旦有以上情況發(fā)生禁止再使用。
2、晶振內(nèi)部水晶片上附有雜質(zhì)或者塵埃等導(dǎo)致晶振不起振
解決辦法：更換新的晶振。在選擇晶振供應(yīng)商的時(shí)候需要對(duì)廠商的設(shè)備、車間環(huán)境、工藝及制程能力予以考量，這關(guān)系到產(chǎn)品的品質(zhì)問題。
當(dāng)使用時(shí)發(fā)現(xiàn)晶振不起振，一般從以上三點(diǎn)找原因即可，若出現(xiàn)停振，則要看看是否發(fā)燙，從而可能是激勵(lì)電平過高的原因；抑或是晶振在工作逐漸出現(xiàn)停振現(xiàn)象，用手碰觸或者用電烙鐵加熱晶振引腳又開始工作，則一般原因?yàn)檎袷庪娐分械呢?fù)性阻抗值太小，需要調(diào)整晶振外接電容Cd和Cg的值來達(dá)到滿足振蕩電路的回路增益。
以上便是此次創(chuàng)芯檢測(cè)帶來的“晶振失效分析”相關(guān)內(nèi)容，希望能對(duì)大家有所幫助，我們將于后期帶來更多精彩內(nèi)容。公司檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測(cè)，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。
